本文標題："電子顯微鏡可以觀察微米下材料的表面形貌-金相顯微鏡常識"
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電材料之表面形貌及其 vertical PFM 的振幅及相位圖，可明顯看出晶界必定為鐵電區(qū)的邊界，
而單一晶粒可以擁有數(shù)個小的鐵電區(qū)，每個鐵電區(qū)的尺寸可以小至幾百奈米的尺寸。
PCT 表面形貌, (b) PCT 的 out-of-plane 鐵電區(qū)的 amplitude 及 phase 影像，掃瞄尺寸為 1微米見方。
接著采用膜厚 300nm 的 Bi0.9Pb0.1FeO3(BPFO)鐵電薄膜量測 in-plane 的局部
壓電響應(yīng)曲線。在圖 4-3 中的紅色十字所標的位置作定點的壓電響應(yīng)曲線量測，
為其 in-plane 壓電響應(yīng)曲線的(a)壓電響應(yīng)相位曲線圖及(b)壓電響應(yīng)振幅曲線圖及(c) 壓電響應(yīng)曲線圖。
可知此定點的極化反轉(zhuǎn)電壓為4.385V，而在此in-plane 壓電響
應(yīng)曲線中可明顯觀察到有電壓偏移的現(xiàn)象，此偏移的來源可能為表面感應(yīng)電荷的
貢獻，使施加電壓為4.385V時仍無法順利使極化反轉(zhuǎn)，造成電壓偏移。
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