本文標題："非均質礦物的光學雙折率的測定礦物顯微鏡應用"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2015-10-5 16:34:6

非均質礦物的光學雙折率的測定礦物顯微鏡應用

雙折率的測定同一礦物，切片方向不同，其雙折率亦

不同，測定礦物的雙折率，是指最大雙折率，所以必須在

定向切片中進行，一軸晶要選平行光軸的切片；二軸晶要

選平行光軸面的切片，它們的干涉色都是最亮的，其測定

方法如下。

1 、選擇干涉色最高的切片，利用石英楔測定其干涉

色級序；2 、利用同一薄片中已知雙折率的礦物，估計礦

片的厚度；3 、根據測定的干涉色級序及估計薄片厚度，

應用干涉色譜表求出相應的雙折率。

不管光線如何傾斜，其光波的振動平面仍然與下偏光

振動方向平行。

如前所述，非均質礦物的光學性質有方向性，對于不

同方向射入的光所顯現的光學效應是不同的，當許多不同

方向的入射線同時通過晶體后，在到歷上偏光鏡時所發生

的消光與干涉效應也各不同相同，所以在錐光鏡下所觀察

到的，應當是偏光錐中各個入射光上偏光鏡干涉色圖形，

一般稱為干涉圖。

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