本文標題："SEM顯微鏡的不斷完善,助于材料科學各領(lǐng)域的研究"
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SEM顯微鏡的不斷完善，助于材料科學各領(lǐng)域的研究
材料內(nèi)各類界面的結(jié)構(gòu)分析
盡管材料內(nèi)各類界面通常位于植被內(nèi)部，但若采
用適當?shù)慕M織顯示方法，可在表面顯示出材料的內(nèi)
部界面，并可用SEM對其進行直至原子尺度的觀察
與分析。
納米材料的組織結(jié)構(gòu)研究
納米材料是一種新型材料，具有特殊的性能，如
特殊的磁性，高的強度、優(yōu)良的耐蝕習，特殊的光
學性能，特殊的導電性能等，但由于納米材料的組
織細小，因而有半納米材料的組織結(jié)構(gòu)研究至今存
在許多困難，而SEM優(yōu)異的分辨本領(lǐng)，使之成為納
米材料潛在有力分析工具之一。
應(yīng)力誘發(fā)相變折原位觀察。
材料裂紋擴展途徑與組織結(jié)構(gòu)的關(guān)系。
材料裂紋擴展時裂尖部位的應(yīng)變分布。
其它如材料電磁性能的研究等等。
總之，隨著SEM儀器的不斷完善與發(fā)展，將有助于
材料科學各領(lǐng)域的研究得以進入原子尺度及原子分
辨階段，它對材料科學的基礎(chǔ)理論及應(yīng)用技術(shù)所起
的作用是難以估量的，無疑，它也將成為材料科學
研究的另一最重要測試分析手段之一。
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